你知道覆層厚度測量儀有哪些技術優(yōu)勢嗎
更新時間：2022-04-25 | 點擊率：879
覆層厚度測量儀是采用電渦流原理的測厚儀，原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可測量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導電性，通過校準同樣也可測量，但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。
覆層厚度測量儀是最新研發(fā)的新產(chǎn)品，與之前涂層測厚儀相比有以下主要優(yōu)點：
1.測量速度快：測量速度比其它TT系列快6倍；
2.精度高：產(chǎn)品簡單校0后精度即可達到1-2%是目前市場上能達到A級的產(chǎn)品,其精度遠高于時代等國內(nèi)同類.比EPK等進口產(chǎn)品精度也高；
3.穩(wěn)定性：測量值的穩(wěn)定性和使用穩(wěn)定性優(yōu)于進口產(chǎn)品；
4.功能、數(shù)據(jù)、操作、顯示全部是中文；
對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學生成膜等，在有關國家和國際標準中稱為覆層(coating)。覆層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質量檢測的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達到優(yōu)等質量標準的手段。為使產(chǎn)品國際化，我國出口商品和涉外項目中，對覆層厚度有了明確的要求。
覆層厚度的測量方法主要有：楔切法、光截法、電解法、厚度差測量法、稱重法、X射線熒光法、β射線反向散射法、電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。
X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復雜昂貴，測量范圍較小。因有放射源，使用者必須遵守射線防護規(guī)范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。
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